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よくあるご質問

Q.コンデンサの測定 (2): 容量帯の違いにより、試験周波数/電圧を変えて静電容量を測定する必要があるのはなぜですか。

コンデンサ(キャパシタ) >  セラミックコンデンサ >  積層セラミックチップコンデンサ/ 積層型リード付きコンデンサ

A. 容量計の周波数設定値は、主に部品の寄生成分によって決まります。部品の測定精度を高めるため、測定周波数を部品のSRF(Self-Resonant Frequency、自己共振周波数)から離します。測定者は静電容量値によって異なる測定周波数を設定します(表1)。10uFを超える静電容量は、タ ンタルコンデンサの容量領域でした。そのため、セラミックコンデンサの容量範囲がタンタルコンデンサの容量範囲にまで増加するのに伴い、業界ではセラミッ クコンデンサにタンタル測定の周波数基準を取り入れています。

印加電圧もコンデンサの静電容量によって決まります。一般に、10uF以下の場合、印加電圧は1.0 ± 0.2 Vrmsです。ただし、10uFを超えると、印加電圧は0.5 ± 0.2 Vrmsです。高静電容量コンデンサのインピーダンスは非常に低いので、測定するために十分な電流を供給するには、電源に1.0 ± 0.2 Vrmsで供給したときより多くの電流が必要です。したがって、印加電圧を下げれば、電源から高静電容量コンデンサを正確に測定するために十分な電流を供給できるようになります。

クラス 静電容量 周波数 電圧
Class I 1,000pF and under 1MHz ± 10% 1.0 ± 0.2 Vrms
Over 1,000pF 1kHz ± 10%
Class II 10uF and under 1kHz ± 10% 1.0 ± 0.2 Vrms
Over 10uF 120Hz ± 10% 0.5 ± 0.2 Vrms
表1:静電容量範囲別とクラス別の周波数および電圧の設定値


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