|
|
|
TDK NTCRPシリーズ絶縁抵抗試験 および絶縁耐圧試験方法 |
|
TDKのNTCRPシリーズ(NTCサーミスタ)は、電動自動車の駆動モータやバッテリ、産業機器の温度検知等幅広いアプリケーションに使用され、高信頼性が求められる製品になります。 特に絶縁抵抗や絶縁耐圧は、顧客使用時に安全な運用と信頼性を確保する上で重要な要素となります。 この記事では、NTCRPシリーズの絶縁抵抗及び絶縁耐圧の試験方法に関してご紹介いたします。 |
|
|
|
|
|
|
エッジデバイス向け自動機械学習(AutoML) プラットフォーム Qeexo |
|
クラウドコンピューティングやスマートフォンの普及、5Gの進展等にともない、インターネット上を移動するデータは増大の一途をたどり、AIなどに代表されるテクノロジーの進化や、ビッグデータおよびIoTなどのデータ活用によるデジタルトランスフォーメーション(DX)の進化を支えるべく、データセンターにおける情報処理需要が急激に増大しています。 そうした市場動向に対応すべく、CPU,GPU,FPGA等の半導体プロセッサーでは、製造プロセス技術の微細化が進展し、単位面積当たりのゲート集積数が増加して、動作周波数が高くなり、 情報処理能力が大幅に向上しました。 こうしたプロセッサーの能力向上に対応して、低電圧大電流用途における高速負荷変動に対応する方法として、現在は、TLVR(Trans-Inductor Voltage Regulators)という回路構成が主流です。 本記事では、TLVRの回路構成に最適化されたVLBUCインダクタをご紹介いたします。 |
|
|
|
|
こちらもチェック! 無料会員制サービス「myTDK」 |
|
myTDKはTDK株式会社が運営する会員制サービスです。 ご利用、会員登録は無料で、ご登録いただくとメール配信サービス、会員限定コンテンツの閲覧、お問い合わせなどのサービスがご利用いただけます。ぜひこの機会にご登録ください。 |
|
|
|
|
|
|
会員限定 コンテンツの閲覧
|
カタログなどの 資料一括DL
|
お問い合わせ
|
|
|