よくあるご質問

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製品について

Q.
TDKのMLCC(積層セラミックチップコンデンサ)には錫ウィスカはありません (1): 内部電極と端子電極にはどのような材料が使用されていますか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
TDKのMLCC(積層セラミックチップコンデンサ)には錫ウィスカはありません (2): どのような方法で錫仕上げがウィスカの形成を促さないようにしますか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
TDKのMLCC(積層セラミックチップコンデンサ)には錫ウィスカはありません (3): 錫ウィスカの試験をどのように行いますか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
TDKの生産中止となったY5V特性の代替品を検討するのに、Y5V特性製品の電気特性データが必要です。どうしたら良いですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
コンデンサがノイズ対策部品となる理由を教えてください。
  • 積層セラミックチップコンデンサ

測定関連について

Q.
高容量MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)測定のヒント (1): 容量測定値が低くなることがあるのはなぜですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
高容量MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)測定のヒント (2): 電圧と周波数はどのような値にすればよいですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
高容量MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)測定のヒント (3): 測定電圧が正しいことを確認するにはどうしたらよいですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
高容量MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)測定のヒント (4): 容量計の測定電圧値が設定値と異なる場合があるのはなぜですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
高容量MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)測定のヒント (5): 測定にはどのような測定器がお勧めですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
高容量MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)測定のヒント (6): 容量測定結果が規格外に低くなる場合、どうしたらよいでしょうか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
高容量MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)測定のヒント (7): 測定電圧の低下は容量測定にどれくらい影響がありますか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (1): 静電容量と誘電正接はどのように測定するとよいですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
    • /
  • 積層型リード付きコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (2): 容量帯の違いにより、試験周波数/電圧を変えて静電容量を測定する必要があるのはなぜですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
    • /
  • 積層型リード付きコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (3): 静電容量のCpとCsの違いは何ですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
    • /
  • 積層型リード付きコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (4): MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)の容量を測定するのには、どのような機能が付いた測定器が良いですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (5): 測定器の“浮遊容量”とは何ですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
    • /
  • 積層型リード付きコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (6): 測定誤差の補正とは何ですか。どうして必要なのですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
    • /
  • 積層型リード付きコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (7): どうすればQ値を正確に測定できますか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
    • /
  • 積層型リード付きコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (8): コンデンサの絶縁抵抗はどのように測定するとよいでしょうか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
コンデンサの測定 (9): MLCC(積層セラミックチップコンデンサ)の絶縁抵抗またはCR積はどのように計算するとよいですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
SRFの測定 (1): コンデンサのSRF(自己共振周波数）を測定するには、どのような計器が必要ですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
    • /
  • 積層型リード付きコンデンサ
Q.
SRFの測定 (2): 低容量コンデンサのSRF(自己共振周波数）測定にHP4291Aを使用する理由は何ですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
    • /
  • 積層型リード付きコンデンサ
Q.
SRFの測定 (3): コンデンサのSRF(自己共振周波数）を測定する際のHP4291Aの設定はどのようにするとよいですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
SRFの測定 (4): インピーダンスアナライザーで静電容量を測定する場合、CsではなくCpを測定するのはなぜですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
SRFの測定 (5): SRF(自己共振周波数）を測定する際、NOP（Number of points）はなぜ周波数のスパンによって決まるのですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
SRFの測定 (6): インピーダンスアナライザーの短絡インダクタンスは測定にどのように作用しますか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
SRFの測定 (7): インピーダンスアナライザーのショートチップインダクタンスを補正しないとどうなりますか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
SRFの測定 (8): パラメータの補正はなぜ必要ですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ
Q.
SRFの測定 (9): オープン補正を行う時の注意点は何ですか。
  • 積層セラミックチップコンデンサ